查看完整版本: 自动检测芯片引脚方法(思考)

liyf 发表于 2011-7-1 15:24:41

ason.jens 发表于 2011-6-30 21:47 static/image/common/back.gif
今天最新了解成果:
      我的一个哥们选择我一下思路说出来大家一起研究一下:
      在芯片引脚上做一个 ...

其实光是测阻抗不能解决问题啊,不知道是来自目标芯片,还是其他原因
假如给个脉冲信号就不一样了,可以检测信号频率,这样就知道是否接触好,这只是个猜测,还有待验证

liyf 发表于 2011-7-1 15:25:29

hdzl 发表于 2011-7-1 08:17 static/image/common/back.gif
又增加了不少内容。来温习温习

现在内容基本都不是现成的了,更新慢点
:lol

ason.jens 发表于 2011-7-1 16:08:35

怎么个脉冲法?

liyf 发表于 2011-7-1 17:06:59

一般是对某个脚施加几十k的脉冲,通过另一个脚读出(或者其他脚),要是没有的话(或者没有成对)就判断那些脚有接触不良,我是这么理解的,但是没看懂电路,不知道对不,或者是其他技术:L

xtoqm 发表于 2011-7-1 17:38:58

ID检测是可以,做DATABASE不是一般的工作量大,要是做,那一块要开源才行

liyf 发表于 2011-7-1 17:40:52

大部分可以,加密的不行

ason.jens 发表于 2011-7-1 22:14:49

能不能给个思路,我试试

393129830 发表于 2011-7-2 00:27:06

管脚接触检测,那不会编程器工作时间等于增加操作者的时间。要不给选择好芯片型号后,每个管脚3V电压,如果不变,说明电路没有接通。

liyf 发表于 2011-7-2 05:16:59

393129830 发表于 2011-7-2 00:27 static/image/common/back.gif
管脚接触检测,那不会编程器工作时间等于增加操作者的时间。要不给选择好芯片型号后,每个管脚3V电压,如果 ...

这个原理怎么理解的?解说下
我一直以为的是,对各引脚写高电平,然后读出各引脚的电平状态,高电平旧事接触好,否则旧事接触有问题

393129830 发表于 2011-7-3 16:41:05

高电平,3V电压是一样的原理。
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