开短路测试

liyf 发表于 2013-6-1 21:00:36

资料来源于网络

以 run pattern 方式測 open/short 的原理如下 :
1. 利用 tester pin electronics 的 dynamic load 來 force current, (VOH / VOH / VIL / IOL 設定如圖)
當 pinA 還未 connect to tester 時, Vout = Vref, 一旦 connect to tester 後, 200uA@2V 的電源
讓 IC diode 導通, Vout = 0.65V, 所以 pattern 為 compare "Z"
2. 假如 IC open, Vout=Vref, Vout=2V > VOH=1.2V, run pattern 時會 fail
3. 假如 IC short, Vout=0V (short 到其他 pin, 其他 pin voltage=0V), Vout=0V < VOH=0.2V, run pattern 時也會 fail

hdzl 发表于 2013-6-1 21:53:05

这是测试引脚短路的电路？

liyf 发表于 2013-6-1 22:19:16

用的还是反向二极管特性

浩文发表于 2013-6-6 12:26:37

原理是这个原理，不过每个Pin都是这个结构？
实际中还得和编程电压隔离

liyf 发表于 2013-6-6 12:56:54

浩文发表于 2013-6-6 12:26 static/image/common/back.gif
原理是这个原理，不过每个Pin都是这个结构？
实际中还得和编程电压隔离

这个不是结构是这样，而是硅芯片的共生特性，就像是寄生二极管效应像寄生电容一样

maithon 发表于 2013-11-16 21:26:54

liyf 发表于 2013-6-6 12:56 static/image/common/back.gif
这个不是结构是这样，而是硅芯片的共生特性，就像是寄生二极管效应像寄生电容一样

不是，这个二极管是ESD保护二极管，一般的IC引脚都会加这个。

liyf 发表于 2013-11-16 22:15:01

maithon 发表于 2013-11-16 21:26 static/image/common/back.gif
不是，这个二极管是ESD保护二极管，一般的IC引脚都会加这个。

是故意设计的？

maithon 发表于 2013-11-17 11:23:06

liyf 发表于 2013-11-16 22:15 static/image/common/back.gif
是故意设计的？

是，对IC的引脚的静电保护，防止过压

liyf 发表于 2013-11-17 14:42:29

maithon 发表于 2013-11-17 11:23 static/image/common/back.gif
是，对IC的引脚的静电保护，防止过压

一直以为是伴生的，靠检测这个来检查该脚是否有接入该二极管

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:08:05

需要模拟开关来切换每一个引脚, 否则需要多套电路来处理 ?

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