一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现
一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现金建辉，何 春
（昆明理工大学信息工程与自动化学院，云南昆明６５００５１）
摘 要：在数字电路实验中，大量使用一些基本系列的数字集成芯片，芯片的好坏和型号需要检测。市场上工
程应用型测试仪价格较贵，不能测试实验室中很多数字芯片，且非中文界面显示。综合了现有的各类测试仪的
优缺点，采用ＳＴＣ８９Ｃ５１６ＲＤ＋单片机和中文ＬＣＤ设计了简易数字芯片测试仪系统，能够实现对数字电子技术实
验中经常使用的逻辑芯片的好坏判别和型号判别，价格便宜，又能实现中文界面的交互。
关键词：ＳＴＣ单片机；测试仪；中文界面
中图分类号：ＴＮ４３１２ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００９－０４７９－（２０１０）０５－００５２－０５
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