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预览 [待整理] 采用混合信号控制器进行混合工作	admin 2014-10-12	01430	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 在高速信号采集系统中利用FPGA实现异步FIFO设计	admin 2014-10-12	01596	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 嵌入式半导体器件混合信号测试策略	admin 2014-10-12	01769	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 测试成本已成为芯片设计成本的主要组成部分	admin 2014-10-12	01508	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 利用DFT规则提高ASIC错误检测范围	admin 2014-10-12	01828	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 数字视频芯片的可复用测试策略	admin 2014-10-12	01172	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 常用温度测量技术及其接口电路	admin 2014-10-12	02282	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 采用可升级测试平台迎接SoC测试的挑战	admin 2014-10-12	01504	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 可降低下一代IC测试成本的确定性逻辑内置自测技术	admin 2014-10-12	01387	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 通过设计、校准固件改善器件的S参数测量	admin 2014-10-12	01581	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 准确测量脉冲信号的S参数(一)	admin 2014-10-12	01442	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 准确测量脉冲信号的S参数(二)	admin 2014-10-12	01918	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 准确测量脉冲信号的S参数(三)	admin 2014-10-12	01762	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 多通道数据采集系统	admin 2014-10-12	01826	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 数字调制信号的测试和调试技术	admin 2014-10-12	01456	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] A/D变换器对频谱仪和信号分析仪动态范围的影响	admin 2014-10-12	01699	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 构成“直接读出”温度探头的IC和DMM	admin 2014-10-12	01435	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 一种基于人工神经元实时谐波电流数字检测方法	admin 2014-10-12	01822	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 电子电度表带来电力计量应用的变革	admin 2014-10-12	01303	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 接地电阻测试仪常用知识解答	admin 2014-10-12	01428	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 接地电阻测试仪的发展与选用	admin 2014-10-12	01413	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 电气安全性能的测量仪器	admin 2014-10-12	01282	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] DS1000数字示波器在实验室中的应用	admin 2014-10-12	01263	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 正确选择和使用逻辑分析仪:逻辑分析仪原理	admin 2014-10-12	01513	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] 如何借助PAT测试实现汽车电子元器件的零缺陷制造	admin 2014-10-12	01339	admin 2014-10-12 13:34
预览 [待整理] F190系列万用示波表应用案例	admin 2014-10-12	01503	admin 2014-10-12 13:34
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