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标题: 3x3将是LTE手机最佳天线数 [打印本页]

作者: admin 时间: 2014-10-11 17:44
标题: 3x3将是LTE手机最佳天线数
无线通信技术在行动市场发光发热，对于RF的测试自然也变得至关重要。对于主导4G市场的LTE技术来说，MIMO当然是其关键。然而对于行动装置来说，究竟在实际的应用上，多少天线数量才能在传输效能与省电功耗间取得平衡。NI无线RF测试产品经理Erik Johnson指出，3x3对手机来说，将是个合理的天线数量。

附图 : NI无线RF测试产品经理Erik Johnson认为，3x3将是行动装置最佳的天线数量。

Erik 说，目前就芯片厂来看，包括Broadcom与Qualcomm Atheros等厂商，都已经发表3x3的MIMO芯片，而4x4芯片则有Quantenna应对数字家庭的无线影像传输用途推出相关产品。事实上，目前许多厂商宣称能达到8x8天线，多半还是属于宣传性质，目前就实际应用层面来看，8x8天线尚无实际商用市场，反倒目前是以2x2为是市场最大主流应用。然而就消费端的角度来看，在新一代4G行动装置问世之后，为了确保数据传输率与耗电量之间，能够取得平衡点，3x3的天线数量将是较为合理的选择。

事实上，对于4G手机来说，耗电量比以往更高，且更容易产生发热的问题。主要的症结点都是来自于PA功率放大器所产生的功耗。因为LTE采用了OFDMA调变技术，峰值平均功率比（PAPR）对其将是个巨大的挑战。峰值功率容易造成功率放大器发热的问题，要解决这样的问题，就必须在测试的时候进行功率电平的测试，来确保PA的操作都在线性的区域内，不会来到非线性范围。另外，追踪讯号封值的追踪也是重要的一环。这两项都是确保功率放大器不会产生巨大功耗，导致产品发出高热的状态。

Erik表示，其实这些问题，NI早就都看到了。目前NI已有针对手机充电功能的评测仪器，可针对整支手机包括通讯、多核处理器进行测试，确保各环节均能在最佳的状态下运作，来减少手机发热的问题。

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