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标题: ICT及ICT测试原理 [打印本页]

作者: admin 时间: 2014-10-12 08:09
标题: ICT及ICT测试原理
一、简介:

ICT在线测试机（IN CIRCUIT TESTER）是经由量测电路板上所有零件，包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED和IC等，检测出电路板产品的各种缺点诸如：线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等，并明确地指出缺点的所在位置，帮助使用者确保产品的品质，并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器（REED RELAY），是当今测试涵盖率最高，测试最稳定，使用最方便，提供数据最齐全的在线测试机。

二.隔离(GUARDING)测试原理:

在测试ACT测试最大的特点就是使用GUARDING的技巧,它把待测元件隔离起来,而不受它线路的影响.(如下列图示).电脑程式自动选择恰当的隔离点可选择多个

三.电阻的量测方法:

(1)定电流测量法:
使用定电流测量法,电脑程式会根据待测电阻的阻值自动设定电流源的大小.

(2)定电压测量法:
当待测电阻并联大电容时,若用定电流测量法,大电容的充电时间过长,然而使用定电压测量法可以缩短测试时间.

(3)相位测量法:
当电阻与电容并联时,如果用电流量测法无法正确量测时,就需要用相位量测法来量测来做测试.此法利用交流电压为信号源,量测零件两端的电压与电流的相位差,藉以计算出各别的电阻抗,电容抗或感抗.

(4)小电阻的量测:
一般小电阻量测(0.1Ω~2Ω)，可以把它当成JUMPER的方式测量但只可量测有无缺件. 若需较精确的量测，就须用四端量测. 原理如下：

信号源和量测各有自己的回路，因此可準确量测RX上的压降。

应用：小电阻如 0.1Ω~10Ω，小电感，小电容量测时会受到 cable 和探针接触不良的影响，而造成测试不稳，而四线量测就可以解决这些问题。
由二线式改為四线式量测法的修改说明如下：
　a. relay board需做以下修改，JA， JB， JC 跳线拿掉，使之开路OPEN。
　b. JA0， JA1， JA2， JA3， JB0， JB1， JB2， JB3， JG0， JG1， JG2， JG3

   c. 此时Relay board只剩下32点，因為第二连接器已被当成sense使用。
　d. 程式方面须做如下设定：

   e. 在此设定下，电阻值最小可量测到0.01Ω。

宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。

三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
　
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率100%；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率极高。

软件系统　
JET-300拥有超越一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程序制作支持软体, 或是测试后的不良信息和数据分析，都有高水平的表现。在微软中文窗口环境下执行的系统程序，操作容易，功能强大。

最差零件(焊点)排行榜
系统可打印出不良数最多的零件(前十名)和不良次数最多的焊点( 前十点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。

测试数据统计的日报表和月报表
图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明了地显示当日各不良原因的百分比。

网络实时监控系统
如果把多台ICT连到内部网络系统，则每一台ICT的测试统计数据都可以在网络上的任何一台计算机上显示，管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。

网络错误讯息查询系统
只要把ICT 和检修站都连到内部网络系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息，包括：打印机的印出讯息和错误图形显示。

待测板图形显示功能
可在待测板不良发生时，明白显示不良零件或焊点的位置，亦可在零件位置查询时显示零件的位置，此功能可大大缩短不良品检修的时间和程序调适的时间。如果厂内有网络联机系统，则此图形亦可在维修站的屏幕上显示出来。


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