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标题: 如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率 [打印本页]

作者: admin 时间: 2014-10-12 12:32
标题: 如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率
光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。
　　而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。
　　大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。
　　Φ32mm*1宏弯测试更为简便
　　两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。

　　用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。
　　分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。
　　从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比 Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的；还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。
　　10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。
　　在测试过程中，Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T 9771.3-2008宏弯损耗的说明，Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。
　　Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。
　　截止波长与宏弯损耗存在相关性

　　为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，实验数据如图3、图4所示。
　　由图3可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。
　　由图4可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm～1290nm，截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。
　　通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm～1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数据稳定，这为光纤厂商优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。

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