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标题: VLSI芯片测试的基础 [打印本页]

作者: admin 时间: 2014-10-12 13:46
标题: VLSI芯片测试的基础
数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础，已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案，包括功能测试仿真向量的产生，转换和实际测试操作，以及芯片的AC/DC参数测试。作为高速信号测试的基础和芯片测试的基石，我们将在本文中介绍通用的数字信号测试技术、难点和各种解决方案，为下一次文章介绍的高速信号测试抛砖引玉。

　　数字信号测试中最基本的是功能测试，也就是模拟芯片在实际工作中的状态，输入一系列的信号，在输出端检测输出信号是否和预测的正常输出相符。以最简单的存储器单元为例，输入时钟、写信号、地址、数据，然后再输入读信号、地址，最后在输出端观察输出的数据是否正确。

　　要将功能测试实际应用在ATE上，需要首先有正确的功能仿真测试向量（包括输入向量和希望的输出向量），然后转换为ATE的测试程序。运行程序时，测试通道向芯片发出驱动波形，比较实际输出向量和希望的输出向量，得出Pass/Fail的结果。
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