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标题: 基于FPGA的频率特性测试仪的设计 [打印本页]

作者: admin 时间: 2014-10-12 16:50
标题: 基于FPGA的频率特性测试仪的设计
为了更好地利用频率特性测试仪，也称扫频仪( FSI) ，测量被测电路网络的幅频特性和相频特性，提出了一种基于FPGA 核心的新型频率特性测试仪设计方案。并在此基础上实现了测量500 Hz 至125 kHz 带宽的幅频特性和相频特性的功能，各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合，与点频测量法相比较误差在5% 以内，并在小型化，数字化，低功耗方面有所特色。

基于FPGA的频率特性测试仪的设计.pdf

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