美国汽车电子委员会AEC-Q001规格推荐了一种通用方法，该方法采用零件平均测试(Part Average Testing，PAT)方法将异常零件从总零件中剔除，因而在供货商阶段改进元器件的品质和可靠性。对特定晶圆、批号或待测零件组，PAT方法可以指示总平均值落在6σ之外的测试结果，任何超出特定元器件的6σ限制值的测试结果均被视为不合格，并从零件总数中剔除，那些未达到PAT限制值的零件不能开始出货给客户，这样一来就改进了元器件的品质和可靠性。
用户对这些规格的要求促使供货商之间的竞争更加激烈。在改进可靠性并降低缺陷率方面面临很大的压力，尤其对于目前由半导体控制的许多相当重要的安全功能，诸如剎车、牵引控制、动力及主动稳定控制系统。供货商既要改进已开始出货零件的品质，又要让这些规格对其良率的影响最小。由于制造成本持续走低，测试成本却维持在相对不变的水准，因此测试成本在制造成本中的比重日益增大，元器件的利润空间持续缩水。由于绝大部份的良率都不能够满足要求，所以供货商必须彻底评估他们的测试程序以便找到替代测试方法，并且从备选方法中反复试验直至找到最佳方法。