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标题: 芯片接触检测、开短路原理汇总帖 [打印本页]

作者: liyf 时间: 2013-1-18 10:47
标题: 芯片接触检测、开短路原理汇总帖
资料越来来越多，方便查找，有这方面资料的欢迎来补充

ic管脚开短路测试方法-应用于管脚接触测试

IC测试原理解析（有介绍针脚接触检测哦，注意看红色文字）

IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论

作者: caowei1225 时间: 2013-2-14 00:18
不错下来收藏。谢谢了

作者: 浩文 时间: 2013-6-5 13:52
好东西，学习下

作者: maithon 时间: 2020-4-25 22:24
学习了，多谢分享。

作者: qiujiefu3 时间: 2020-5-2 23:48
这个真的太给力了谢谢

作者: maithon 时间: 2025-5-8 18:58
最近，测试艾科的信号，开短路，给的是2ms 的先负后正3v 脉冲，若开路，则能测到正负3V的宽脉冲，若正常，则为0.7v正负左右的脉冲。若有接触不好，则超过0.7v的幅值。

作者: wangyaoyin 时间: 昨天 08:41
看来只要是愿意学的都会学到很多的知识！

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