TD-LTE芯片的射频性能测试完成

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全球领先的测试设备制造商—安捷伦科技有限公司（NYSE：A）与TD-LTE芯片制造商—创毅视讯日前宣布，双方已合作完成TD-LTE的数据卡射频性能的测试。本测试参考3GPPLTE规范及创毅视讯测试需求，基于安捷伦的N5182A信号发生器及N9020A信号分析仪平台完成。本次联合测试遵循3GPP标准规定的第六章及第七章的芯片发射机及接收机的测试规范，这也是两家公司一次成功的合作。
安捷伦科技中国区总经理兰涛提到：“安捷伦作为全球领先的测试设备制造商，一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的测试方案，安捷伦将与创毅视讯一起合作开发TD-LTE测试系统。在中国部署下一代移动通信网络的过程中，安捷伦将扮演重要的角色，为中国移动通信事业做贡献。”
创毅视讯的CEO张辉说：“创毅视讯作为TD-LTE业界率先推出基带处理芯片和数据卡解决方案的中国公司，与安捷伦共同完成的联合测试，具有里程碑的意义，这次合作也帮助我们完成对芯片的性能指标验证。”
安捷伦的MXA，MXG及PXB系列信号分析仪，信号发生器及信道仿真仪可以支持最新的TDD/FDD-LTE标准测试，同时，X系列平台还能支持多达20种以上的无线标准的测试，具体可参见www.agilent.com/find/X-series。
下一代无线通信技术，简称LTE，有时分复用TDD及频分复用FDD两个版本，TD-LTE将在在全球得到广泛的部署。安捷伦为TDD和FDD两种最新的无线制式提供了完整的测试解决方案。