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[资料] 一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现

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发表于 2014-3-11 19:02:57 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现
金建辉,何 春
(昆明理工大学信息工程与自动化学院,云南昆明650051)
摘 要:在数字电路实验中,大量使用一些基本系列的数字集成芯片,芯片的好坏和型号需要检测。市场上工
程应用型测试仪价格较贵,不能测试实验室中很多数字芯片,且非中文界面显示。综合了现有的各类测试仪的
优缺点,采用STC89C516RD+单片机和中文LCD设计了简易数字芯片测试仪系统,能够实现对数字电子技术实
验中经常使用的逻辑芯片的好坏判别和型号判别,价格便宜,又能实现中文界面的交互。
关键词:STC单片机;测试仪;中文界面
中图分类号:TN4312  文献标识码:A 文章编号:1009-0479-(2010)05-0052-05
一种中文界面的简易芯片测试仪的设计与实现.pdf (1.79 MB, 下载次数: 2)

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