查看完整版本: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

Kevin 发表于 2020-4-21 11:45:09

楼主，帖子里面的原理是source电流来测试电压，编程器没有办法提供负电流啊。如果只考虑芯片与测试座的连接关系，是不是可以通过force 0.7V电压，测试有无电流来判断

muelfox 发表于 2021-7-2 13:02:51


谢谢分享, 一切为了银子
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