查看完整版本: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

liyf 发表于 2013-6-6 20:12:44

浩文 发表于 2013-6-6 19:28 static/image/common/back.gif
拆了个全驱的，用的FPGAxilinx xcs05xl vq100，这个不懂了

什么编程器？

浩文 发表于 2013-6-6 20:41:41

XELTEKsuperpro 3000u，不是自己的，找领导借出来拆了:lol

浩文 发表于 2013-6-6 20:46:26

主控芯片看不出来是什么，去不挂掉了:L

liyf 发表于 2013-6-6 21:44:00

他这是arm+fpga架构，你看看拆解帖，有介绍:lol

shangdawei 发表于 2013-7-22 14:50:34

学习了，谢谢

maithon 发表于 2013-11-16 21:24:43

听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有无接触良好。

liyf 发表于 2013-11-16 22:13:41

maithon 发表于 2013-11-16 21:24 static/image/common/back.gif
听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有 ...

原来也有人这么和我说过，但是觉得这么做还是有点欠缺什么
研议的好像做的更好些

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06:50

有没有具体的实现电路可以参考 ?

liyf 发表于 2014-11-12 08:21:53

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

通过编程器来抠出那部分电路来，需要理解编程器的实现这个的原理，现在还不能确认哪块电路，也就无从解说原理了

shangdawei 发表于 2014-11-12 15:30:30

期待楼主有更一步的进展
页: 1 [2] 3 4
查看完整版本: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理