查看完整版本: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54:48

3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来控制 ?

如果是吸收电流, 那么测试的应该是 引脚和GND之间的二极管吧 ?








liyf 发表于 2014-11-23 07:59:33

shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来 ...

你这电路画全了吗？光是以局部电路很难定位功能。
光是看这部分我倒是觉得像是pin保护用，通过vdac控制的电压输出实时控制pin的嵌位电压，这样做比固定嵌位电压有很多好处

shangdawei 发表于 2014-11-23 09:45:48


shangdawei 发表于 2014-11-23 09:49:07

VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

liyf 发表于 2014-11-23 12:23:09

shangdawei 发表于 2014-11-23 09:49
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

通过比较器实现超过嵌位电压就向地释放

shangdawei 发表于 2014-11-23 14:28:13

也就是说箝位电压不会超过 VDAC 或者 VCCIO (VDAC > VCCIO ) ?

shangdawei 发表于 2014-11-23 14:43:06



500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样



liyf 发表于 2014-11-23 17:37:38

shangdawei 发表于 2014-11-23 14:43
500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样

嵌位电压该是指A端的电压，也就是vccio+0.7

cmjx 发表于 2017-3-18 00:16:34

我是来骗银子的。:loveliness:

madmike 发表于 2018-4-25 18:05:25


我就是支持你啊
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