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楼主: liyf
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IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

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21#
发表于 2014-11-22 21:54:48 | 只看该作者
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来控制 ?

如果是吸收电流, 那么测试的应该是 引脚和GND之间的二极管吧 ?








22#
 楼主| 发表于 2014-11-23 07:59:33 | 只看该作者
shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来 ...

你这电路画全了吗?光是以局部电路很难定位功能。
光是看这部分我倒是觉得像是pin保护用,通过vdac控制的电压输出实时控制pin的嵌位电压,这样做比固定嵌位电压有很多好处
23#
发表于 2014-11-23 09:45:48 | 只看该作者

24#
发表于 2014-11-23 09:49:07 | 只看该作者
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧
25#
 楼主| 发表于 2014-11-23 12:23:09 | 只看该作者
shangdawei 发表于 2014-11-23 09:49
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

通过比较器实现超过嵌位电压就向地释放
26#
发表于 2014-11-23 14:28:13 | 只看该作者
也就是说箝位电压不会超过 VDAC 或者 VCCIO (VDAC > VCCIO ) ?
27#
发表于 2014-11-23 14:43:06 | 只看该作者


500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样



28#
 楼主| 发表于 2014-11-23 17:37:38 | 只看该作者
shangdawei 发表于 2014-11-23 14:43
500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样

嵌位电压该是指A端的电压,也就是vccio+0.7
29#
发表于 2017-3-18 00:16:34 | 只看该作者
我是来骗银子的。
30#
发表于 2018-4-25 18:05:25 | 只看该作者

我就是支持你啊
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