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楼主: liyf
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IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

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11#
 楼主| 发表于 2013-6-6 20:12:44 | 只看该作者
浩文 发表于 2013-6-6 19:28
拆了个全驱的,用的FPGA  xilinx xcs05xl vq100,这个不懂了

什么编程器?
12#
发表于 2013-6-6 20:41:41 | 只看该作者
XELTEK  superpro 3000u  ,不是自己的,找领导借出来拆了
13#
发表于 2013-6-6 20:46:26 | 只看该作者
主控芯片看不出来是什么,去不挂掉了
14#
 楼主| 发表于 2013-6-6 21:44:00 | 只看该作者
他这是arm+fpga架构,你看看拆解帖,有介绍
15#
发表于 2013-7-22 14:50:34 | 只看该作者
学习了,谢谢
16#
发表于 2013-11-16 21:24:43 | 只看该作者
听说现在用数字法,也能检测开短路,就是输出个高电平,然后定期扫描电压,通过电压降时间常数来估计IC脚有无接触良好。
17#
 楼主| 发表于 2013-11-16 22:13:41 | 只看该作者
maithon 发表于 2013-11-16 21:24
听说现在用数字法,也能检测开短路,就是输出个高电平,然后定期扫描电压,通过电压降时间常数来估计IC脚有 ...

原来也有人这么和我说过,但是觉得这么做还是有点欠缺什么
研议的好像做的更好些
18#
发表于 2014-11-12 00:06:50 | 只看该作者
有没有具体的实现电路可以参考 ?
19#
 楼主| 发表于 2014-11-12 08:21:53 | 只看该作者
shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

通过编程器来抠出那部分电路来,需要理解编程器的实现这个的原理,现在还不能确认哪块电路,也就无从解说原理了
20#
发表于 2014-11-12 15:30:30 | 只看该作者
期待楼主有更一步的进展
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